Spolehlivost v mikroelektronice.
Vydání: 1980 | Jazyk: čeština | Signatura: T 8721
Práce naznačuje spojení současné mikroelektroniky se základními vědami, jako je fyzika, fyzikální chemie a jejich odvětví a na těchto vztazích probírá otázky spolehlivosti elektronických součástek.
Omlouváme se, tento titul je v Městské knihovně v Praze nedostupný.
Zkuste štěstí v dalších českých knihovnách a hledejte nedostupné tituly na www.knihovny.cz.
Podrobnosti tohoto vydání
| Popis | |
|---|---|
| Čtenářská kategorie | kniha |
| Záhlaví | ČETVERIKOV, N.I. |
| Název | Spolehlivost v mikroelektronice. |
| Autor | N.I. Četverikov |
| Vydání | |
| Měřítko | |
| Místo vydání | |
| Nakladatel | |
| Rok vydání | 1980 |
| Rozsah | |
| Durata | |
| Vybavení | |
| Rozměry | |
| Počet stran | 53 |
| Doprovodný materiál | |
| Poznámka | |
| Cena | 6 |
| Obsahová char. "OCH" | T3g2 |
| Obsah OCHu | Elektronika. Fotoelektronika. Polovodičové prvky. |
Lístek
| MARC |
|---|
| Náhledy |
|---|
  |